Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Lavlesh s. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhiksha C. · Відгук надано більше 1 року тому

OMENDRA S. · Відгук надано більше 1 року тому

Prerna R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ronit N. · Відгук надано більше 1 року тому

Divya D. · Відгук надано більше 1 року тому

Priyanka k. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice

Ayush A. · Відгук надано більше 1 року тому

Good lab

Kruthi Vaishnavi P. · Відгук надано більше 1 року тому

Shalini N. · Відгук надано більше 1 року тому

Puru S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ronit N. · Відгук надано більше 1 року тому

Vasanth kumar K. · Відгук надано більше 1 року тому

Kunal S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nivedita S. · Відгук надано більше 1 року тому

Karnika G. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanshika F. · Відгук надано більше 1 року тому

Sohan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhaval V. · Відгук надано більше 1 року тому

Sayon S. · Відгук надано більше 1 року тому

Onkar H. · Відгук надано більше 1 року тому

Tree G. · Відгук надано більше 1 року тому

Kannika Mahesh D. · Відгук надано більше 1 року тому

Dheeraj D. · Відгук надано більше 1 року тому

Satnam Singh M. · Відгук надано більше 1 року тому