Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Jigar M. · Відгук надано більше 1 року тому

YASHWANT T. · Відгук надано більше 1 року тому

shivam l. · Відгук надано більше 1 року тому

velavan v. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhay Kumar P. · Відгук надано більше 1 року тому

Mantu 0. · Відгук надано більше 1 року тому

Deepanshu A. · Відгук надано більше 1 року тому

Lavanya uma Bhavani D. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

Ma'shum Abdul J. · Відгук надано більше 1 року тому

Tarang J. · Відгук надано більше 1 року тому

Akash B. · Відгук надано більше 1 року тому

Aurora Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Ibrahim Hendi Zulkarnaen N. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanvi M. · Відгук надано більше 1 року тому

Rei S. · Відгук надано більше 1 року тому

Kanika D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi S. · Відгук надано більше 1 року тому

rakesh p. · Відгук надано більше 1 року тому

Raj C. · Відгук надано більше 1 року тому

Arcade F. · Відгук надано більше 1 року тому

Divyansh U. · Відгук надано більше 1 року тому

Afri N. · Відгук надано більше 1 року тому

Anuj S. · Відгук надано більше 1 року тому

Yoga P. · Відгук надано більше 1 року тому

Dini R. · Відгук надано більше 1 року тому