Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

good

Tanvi D. · Відгук надано більше 1 року тому

I Dewa Made R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ventapalli S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumukh M. · Відгук надано більше 1 року тому

Akbar I. · Відгук надано більше 1 року тому

Yayes Kasnanda B. · Відгук надано більше 1 року тому

Shreya T. · Відгук надано більше 1 року тому

Praveen S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahul K. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Devansh M. · Відгук надано більше 1 року тому

Udita C. · Відгук надано більше 1 року тому

awesome

Dandi l. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Ujwal B. · Відгук надано більше 1 року тому

Prabhakaran J. · Відгук надано більше 1 року тому

Nitya Z. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Krishnesh T. · Відгук надано більше 1 року тому

Thomas K. · Відгук надано більше 1 року тому

Athulyakrishna G. · Відгук надано більше 1 року тому

Piyush R. · Відгук надано більше 1 року тому

Polani Keerthi V. · Відгук надано більше 1 року тому

Irdan G. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhruv P. · Відгук надано більше 1 року тому

Suresh R. · Відгук надано більше 1 року тому