Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

BATTULA V. · Відгук надано більше 1 року тому

Pratik J. · Відгук надано більше 1 року тому

Yashika C. · Відгук надано більше 1 року тому

SAURAVE V S T. · Відгук надано більше 1 року тому

SAI BHAVYA S. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohamad Arif M. · Відгук надано більше 1 року тому

Omkar P. · Відгук надано більше 1 року тому

ff

Jaydip R. · Відгук надано більше 1 року тому

excellent

ATUL K. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi M. · Відгук надано більше 1 року тому

Sneha J. · Відгук надано більше 1 року тому

Ni Made W. · Відгук надано більше 1 року тому

Nice Lab

Udit V. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek K. · Відгук надано більше 1 року тому

Preetam S. · Відгук надано більше 1 року тому

Eveline J. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaibhav S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ganesh S. · Відгук надано більше 1 року тому

srusti p. · Відгук надано більше 1 року тому

Sheetal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Vivek C. · Відгук надано більше 1 року тому

Ved R. · Відгук надано більше 1 року тому

Prachi U. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditi t. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohit T. · Відгук надано більше 1 року тому