Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

GREAT

Janvi R. · Відгук надано більше 1 року тому

Manju L. · Відгук надано більше 1 року тому

Kishan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumit R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ankit G. · Відгук надано більше 1 року тому

KHUSHI G. · Відгук надано більше 1 року тому

Sahil A. · Відгук надано більше 1 року тому

Diksha N. · Відгук надано більше 1 року тому

7SG- C. · Відгук надано більше 1 року тому

Yashfin S. · Відгук надано більше 1 року тому

Heykal S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rio D. · Відгук надано більше 1 року тому

great

Titash G. · Відгук надано більше 1 року тому

Kotha Venkata Lakshmi S. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

ANIRBAN C. · Відгук надано більше 1 року тому

nice challenge

Kurnianto T. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaushal k. · Відгук надано більше 1 року тому

Karun R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ullas D. · Відгук надано більше 1 року тому

Kriti K. · Відгук надано більше 1 року тому

Teerth U. · Відгук надано більше 1 року тому

Elnathan D. · Відгук надано більше 1 року тому

Vagdevi C. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaibhav G. · Відгук надано більше 1 року тому

184_om G. · Відгук надано більше 1 року тому