Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Pranjal C. · Відгук надано більше 1 року тому

Saksham C. · Відгук надано більше 1 року тому

Aniket C. · Відгук надано більше 1 року тому

Ansh S. · Відгук надано більше 1 року тому

perfect

Raghav K. · Відгук надано більше 1 року тому

Nivedita S. · Відгук надано більше 1 року тому

Amit M. · Відгук надано більше 1 року тому

Rohan G. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhay S. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhamad R. · Відгук надано більше 1 року тому

adithya k. · Відгук надано більше 1 року тому

Daksh G. · Відгук надано більше 1 року тому

Alok Kumar N. · Відгук надано більше 1 року тому

Datta Naga sai C. · Відгук надано більше 1 року тому

Sakshi J. · Відгук надано більше 1 року тому

gg

Viraj K. · Відгук надано більше 1 року тому

Anandita D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sumit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Lim X. · Відгук надано більше 1 року тому

Debalina R. · Відгук надано більше 1 року тому

Sateesh Chandra Babu A. · Відгук надано більше 1 року тому

Anandita D. · Відгук надано більше 1 року тому

Anas f. · Відгук надано більше 1 року тому

Sujini E. · Відгук надано більше 1 року тому

Ajay k. · Відгук надано більше 1 року тому