Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Aakarsh C. · Відгук надано більше 1 року тому

Anirudh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Anshu K. · Відгук надано більше 1 року тому

daiyan uthsa r. · Відгук надано більше 1 року тому

Hanun L. · Відгук надано більше 1 року тому

Eileen X. · Відгук надано більше 1 року тому

Atharva K. · Відгук надано більше 1 року тому

Incridible!

I Putu Aditya W. · Відгук надано більше 1 року тому

Kylie H. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Malcolm S. · Відгук надано більше 1 року тому

Carlos V. · Відгук надано більше 1 року тому

Denis K. · Відгук надано більше 1 року тому

Furkan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rubén Darío G. · Відгук надано більше 1 року тому

Suraj K. · Відгук надано більше 1 року тому

Subodh C. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Ihjas A. · Відгук надано більше 1 року тому

aniket c. · Відгук надано більше 1 року тому

Anushree P. · Відгук надано більше 1 року тому

ncie'

Karan Singh G. · Відгук надано більше 1 року тому

s r. · Відгук надано більше 1 року тому

laxita s. · Відгук надано більше 1 року тому

Vanshika S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sayan Guchhait C. · Відгук надано більше 1 року тому