Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Arpan A. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed M. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanmoy D. · Відгук надано більше 1 року тому

Mubarak H. · Відгук надано більше 1 року тому

Sahil C. · Відгук надано більше 1 року тому

Srinidhi A. · Відгук надано більше 1 року тому

Willy Rahma W. · Відгук надано більше 1 року тому

Digital D. · Відгук надано більше 1 року тому

Tanmay K. · Відгук надано більше 1 року тому

Social w. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed A. · Відгук надано більше 1 року тому

Aarya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Gauri c. · Відгук надано більше 1 року тому

Janusz S. · Відгук надано більше 1 року тому

Subrat K. · Відгук надано більше 1 року тому

Soorya N. · Відгук надано більше 1 року тому

Rumaisa S. · Відгук надано більше 1 року тому

Kavyansh J. · Відгук надано більше 1 року тому

Tisha D. · Відгук надано більше 1 року тому

Latif A. · Відгук надано більше 1 року тому

Urvisha D. · Відгук надано більше 1 року тому

Adharsh J. · Відгук надано більше 1 року тому

Radhika K. · Відгук надано більше 1 року тому

Latif A. · Відгук надано більше 1 року тому

Excellent lab

Jasmohan Singh N. · Відгук надано більше 1 року тому