Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

farheensaba s. · Відгук надано більше 1 року тому

Khushi K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sentot S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rittwika D. · Відгук надано більше 1 року тому

kadiyala p. · Відгук надано більше 1 року тому

Alpa R. · Відгук надано більше 1 року тому

Sankhya L. · Відгук надано більше 1 року тому

Yulia V. · Відгук надано більше 1 року тому

Varsha S. · Відгук надано більше 1 року тому

Nova Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Dwi S. · Відгук надано більше 1 року тому

Saketh N. · Відгук надано більше 1 року тому

Sabir M. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Ilham B. · Відгук надано більше 1 року тому

Happy Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Satya N. · Відгук надано більше 1 року тому

Satya M. · Відгук надано більше 1 року тому

Great

Nandini Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Vansh g. · Відгук надано більше 1 року тому

Saharsh S. · Відгук надано більше 1 року тому

Kartik H. · Відгук надано більше 1 року тому

great

Nikita S. · Відгук надано більше 1 року тому

Galih E. · Відгук надано більше 1 року тому

Yogeshwaran s. · Відгук надано більше 1 року тому

BUKU G. · Відгук надано більше 1 року тому