Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Umang U. · Відгук надано більше 1 року тому

CHENNUPATI DHEERAJ KARTHIKEYA 2. · Відгук надано більше 1 року тому

Soumyadeepta M. · Відгук надано більше 1 року тому

Subhadeep R. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Meetrajsinh P. · Відгук надано більше 1 року тому

Suvarna G. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhinay P. · Відгук надано більше 1 року тому

Nilankan P. · Відгук надано більше 1 року тому

Jitendra P. · Відгук надано більше 1 року тому

Anurag N. · Відгук надано більше 1 року тому

Saniya G. · Відгук надано більше 1 року тому

Moch Aril I. · Відгук надано більше 1 року тому

Random S. · Відгук надано більше 1 року тому

nikhitha a. · Відгук надано більше 1 року тому

kadiyala p. · Відгук надано більше 1 року тому

om s. · Відгук надано більше 1 року тому

Punit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Bundele D. · Відгук надано більше 1 року тому

Saurav K. · Відгук надано більше 1 року тому

Deepak K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sonali S. · Відгук надано більше 1 року тому

Naufal M. · Відгук надано більше 1 року тому

Muskan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohit A. · Відгук надано більше 1 року тому