Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Michael A. · Відгук надано більше 1 року тому

Amal L. · Відгук надано більше 1 року тому

Farhan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Muchammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Fitria Nurul A. · Відгук надано більше 1 року тому

Rakan F. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Jalaj D. · Відгук надано більше 1 року тому

Yashika G. · Відгук надано більше 1 року тому

Gabriel V. · Відгук надано більше 1 року тому

Theodorus Yosia Raffael G. · Відгук надано більше 1 року тому

Suraj K. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Salman A. · Відгук надано більше 1 року тому

Audi Ilham A. · Відгук надано більше 1 року тому

Akmal P. · Відгук надано більше 1 року тому

Samuel Mahesa S. · Відгук надано більше 1 року тому

Erlaend M. · Відгук надано більше 1 року тому

Suraj K. · Відгук надано більше 1 року тому

Gift A. · Відгук надано більше 1 року тому

Lukman A. · Відгук надано більше 1 року тому

Tisha Rani D. · Відгук надано більше 1 року тому

GREAT!

mitali c. · Відгук надано більше 1 року тому

Jushmita K. · Відгук надано більше 1 року тому

sreelekha s. · Відгук надано більше 1 року тому

Amisha S. · Відгук надано більше 1 року тому

Deep p. · Відгук надано більше 1 року тому