Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Aji D. · Відгук надано більше 1 року тому

SQuthbuddin P. · Відгук надано більше 1 року тому

Cedric S. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad I. · Відгук надано більше 1 року тому

Aris S. · Відгук надано більше 1 року тому

Bintang M. · Відгук надано більше 1 року тому

Ignasius Yuda A. · Відгук надано більше 1 року тому

Azhrul azim R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ahmad R. · Відгук надано більше 1 року тому

Farah J. · Відгук надано більше 1 року тому

gg

Dana I. · Відгук надано більше 1 року тому

M S. · Відгук надано більше 1 року тому

Zaki M. · Відгук надано більше 1 року тому

Riski k. · Відгук надано більше 1 року тому

Alwin F. · Відгук надано більше 1 року тому

Saif K. · Відгук надано більше 1 року тому

Angga P. · Відгук надано більше 1 року тому

Zava Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Rafael A. · Відгук надано більше 1 року тому

Maulana D. · Відгук надано більше 1 року тому

Anurag A. · Відгук надано більше 1 року тому

Nauval F. · Відгук надано більше 1 року тому

Afwa A. · Відгук надано більше 1 року тому

Prabu U. · Відгук надано більше 1 року тому

Rosyid M. · Відгук надано більше 1 року тому