Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

muhammad irawan a. · Відгук надано більше 1 року тому

Kharisma E. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Rahadyan - 42 G. · Відгук надано більше 1 року тому

Felicia S. · Відгук надано більше 1 року тому

Irhan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Rizqa Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Malik F. · Відгук надано більше 1 року тому

Donny P. · Відгук надано більше 1 року тому

Dewana K. · Відгук надано більше 1 року тому

Banny J. · Відгук надано більше 1 року тому

Yasser A. · Відгук надано більше 1 року тому

Ihzra Fahrullizian Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Echo R. · Відгук надано більше 1 року тому

Khansafa A. · Відгук надано більше 1 року тому

Pancadrya Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhika Taufan H. · Відгук надано більше 1 року тому

Moch Galang R. · Відгук надано більше 1 року тому

divyom c. · Відгук надано більше 1 року тому

Taufiq Qurohman R. · Відгук надано більше 1 року тому

David W. · Відгук надано більше 1 року тому

Farrel H. · Відгук надано більше 1 року тому

Anozi M. · Відгук надано більше 1 року тому

a little too easy. How can we perform prediction throughout the whole cloud bucket?

Irfan B. · Відгук надано більше 1 року тому

Irvan A. · Відгук надано більше 1 року тому