Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Victor V. · Відгук надано більше 1 року тому

dewabrata d. · Відгук надано більше 1 року тому

Joko E. · Відгук надано більше 1 року тому

Ferdy T. · Відгук надано більше 1 року тому

Atha D. · Відгук надано більше 1 року тому

Ahmad Wali R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ahmad Wali R. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad R. · Відгук надано більше 1 року тому

Venansius M. · Відгук надано більше 1 року тому

Atha D. · Відгук надано більше 1 року тому

Raihan Sabiq R. · Відгук надано більше 1 року тому

Azka z. · Відгук надано більше 1 року тому

Fattah C. · Відгук надано більше 1 року тому

Noviana H. · Відгук надано більше 1 року тому

Muhammad Z. · Відгук надано більше 1 року тому

Dadak N. · Відгук надано більше 1 року тому

fang b. · Відгук надано більше 1 року тому

Basyir N. · Відгук надано більше 1 року тому

Yunia A. · Відгук надано більше 1 року тому

Irsyad I. · Відгук надано більше 1 року тому

P.Jaipal R. · Відгук надано більше 1 року тому

Nida A. · Відгук надано більше 1 року тому

Hanifah Marta A. · Відгук надано більше 1 року тому

Hanifah Marta A. · Відгук надано більше 1 року тому

Ilham Berty S. · Відгук надано більше 1 року тому