Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

belliny K. · Відгук надано більше 1 року тому

JaeHyun Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Lloyd W. · Відгук надано більше 1 року тому

Arpit S. · Відгук надано більше 1 року тому

Duseok R. · Відгук надано більше 1 року тому

joonha L. · Відгук надано більше 1 року тому

JaeHoon L. · Відгук надано більше 1 року тому

Andrii B. · Відгук надано більше 1 року тому

Eugene Minwhoan K. · Відгук надано більше 1 року тому

good lab

Ruddraksh P. · Відгук надано більше 1 року тому

good

Lina L. · Відгук надано більше 1 року тому

영찬 김. · Відгук надано більше 1 року тому

Charan K. · Відгук надано більше 1 року тому

유리 홍. · Відгук надано більше 1 року тому

Aditya P. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaizin P. · Відгук надано більше 1 року тому

Great!

Chaitanya D. · Відгук надано більше 1 року тому

Sagar M. · Відгук надано більше 1 року тому

Purva s. · Відгук надано більше 1 року тому

David W. · Відгук надано більше 1 року тому

희태 최. · Відгук надано більше 1 року тому

SangKug C. · Відгук надано більше 1 року тому

손 경. · Відгук надано більше 1 року тому

Sana M. · Відгук надано більше 1 року тому

Samuel C. · Відгук надано більше 1 року тому