Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Byeonghyeon P. · Відгук надано більше 1 року тому

Byeonghyeon P. · Відгук надано більше 1 року тому

Roshan V. · Відгук надано більше 1 року тому

Vishal P. · Відгук надано більше 1 року тому

기원 이. · Відгук надано більше 1 року тому

Vitalii B. · Відгук надано більше 1 року тому

재민 현. · Відгук надано більше 1 року тому

Wonjin S. · Відгук надано більше 1 року тому

상재 변. · Відгук надано більше 1 року тому

Gustavo Kazuiti M. · Відгук надано більше 1 року тому

DevLuce 최. · Відгук надано більше 1 року тому

nice

Krushna chandra B. · Відгук надано більше 1 року тому

인철 조. · Відгук надано більше 1 року тому

analytics d. · Відгук надано більше 1 року тому

Rajesh K. · Відгук надано більше 1 року тому

Haifa A. · Відгук надано більше 1 року тому

Varun S. · Відгук надано більше 1 року тому

승준 백. · Відгук надано більше 1 року тому

Gokul M. · Відгук надано більше 1 року тому

Deepanshu T. · Відгук надано більше 1 року тому

Gokul M. · Відгук надано більше 1 року тому

Gi Mun L. · Відгук надано більше 1 року тому

Minjae G. · Відгук надано більше 1 року тому

Ripan G. · Відгук надано більше 1 року тому

주호 이. · Відгук надано більше 1 року тому