Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Siraz S. · Відгук надано більше 1 року тому

Hemang P. · Відгук надано більше 1 року тому

Jinbeom K. · Відгук надано більше 1 року тому

Rahmad F. · Відгук надано більше 1 року тому

아영 김. · Відгук надано більше 1 року тому

Vijay G. · Відгук надано більше 1 року тому

SUN J. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaushik D. · Відгук надано більше 1 року тому

stats G. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaushik D. · Відгук надано більше 1 року тому

VISAL T. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaushik D. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaushik D. · Відгук надано більше 1 року тому

상필 박. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaushik D. · Відгук надано більше 1 року тому

Kaushik D. · Відгук надано більше 1 року тому

AYUSH KUMAR S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ujjwal K. · Відгук надано більше 1 року тому

Lee Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Srijan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Srijan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Jayant V. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek G. · Відгук надано більше 1 року тому

Srijan M. · Відгук надано більше 1 року тому

Dhanush R. · Відгук надано більше 1 року тому