Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Jessica P. · Відгук надано більше 1 року тому

Vaishnavi R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ovo O. · Відгук надано більше 1 року тому

Rajeev S. · Відгук надано більше 1 року тому

Meetkumar V. · Відгук надано більше 1 року тому

Uttam Kumar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Sanskar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Harshad S. · Відгук надано більше 1 року тому

Jivan K. · Відгук надано більше 1 року тому

DIGANTIKA S. · Відгук надано більше 1 року тому

Kashish P. · Відгук надано більше 1 року тому

耕平 石. · Відгук надано більше 1 року тому

Lakshmi Narayana V. · Відгук надано більше 1 року тому

Sujal M. · Відгук надано більше 1 року тому

Debayan K. · Відгук надано більше 1 року тому

Sougata P. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammed E. · Відгук надано більше 1 року тому

Víctor R. · Відгук надано більше 1 року тому

Ren Jacob C. · Відгук надано більше 1 року тому

Srijib D. · Відгук надано більше 1 року тому

Zivile L. · Відгук надано більше 1 року тому

Ray G. · Відгук надано більше 1 року тому

PINAKI S. · Відгук надано більше 1 року тому

Good

N.Praneeth G. · Відгук надано більше 1 року тому

PHANI G. · Відгук надано більше 1 року тому