Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Mohammad A. · Відгук надано більше 1 року тому

Zain N. · Відгук надано більше 1 року тому

Pradip Y. · Відгук надано більше 1 року тому

Oleh B. · Відгук надано більше 1 року тому

Nebojsha A. · Відгук надано більше 1 року тому

João F. · Відгук надано більше 1 року тому

Sabya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Rasmiranjan S. · Відгук надано більше 1 року тому

Smaranika Nayak G. · Відгук надано більше 1 року тому

Krishna Chaithanya M. · Відгук надано більше 1 року тому

Marcelo M. · Відгук надано більше 1 року тому

zlatan G. · Відгук надано більше 1 року тому

Tavis F. · Відгук надано більше 1 року тому

Mohammad Aimaduddin Atiq K. · Відгук надано більше 1 року тому

Jesús Francisco P. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek C. · Відгук надано більше 1 року тому

Emilly O. · Відгук надано більше 1 року тому

Sonali R. · Відгук надано більше 1 року тому

A S. · Відгук надано більше 1 року тому

Dilara P. · Відгук надано більше 1 року тому

great

anshika b. · Відгук надано більше 1 року тому

Sabya S. · Відгук надано більше 1 року тому

Ravishankar R. · Відгук надано більше 1 року тому

Daksh C. · Відгук надано більше 1 року тому

Anatoliy A. · Відгук надано більше 1 року тому