Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Good.

Ruargh S. · Відгук надано близько 1 року тому

Akash C. · Відгук надано близько 1 року тому

Abhishek M. · Відгук надано близько 1 року тому

Renish A. · Відгук надано близько 1 року тому

JAIKEY S. · Відгук надано близько 1 року тому

Francisco Jose G. · Відгук надано близько 1 року тому

good lab

Ayushman N. · Відгук надано близько 1 року тому

Munyim H. · Відгук надано близько 1 року тому

Anjanamol R. · Відгук надано близько 1 року тому

Kritansh T. · Відгук надано більше 1 року тому

Terence S. · Відгук надано більше 1 року тому

Piotr B. · Відгук надано більше 1 року тому

Piotr B. · Відгук надано більше 1 року тому

Matin N. · Відгук надано більше 1 року тому

Ritu R. · Відгук надано більше 1 року тому

DEVU V. · Відгук надано більше 1 року тому

Arji B. · Відгук надано більше 1 року тому

敬源 黃. · Відгук надано більше 1 року тому

Rose C. · Відгук надано більше 1 року тому

Abhishek S. · Відгук надано більше 1 року тому

Saurabh Kumar S. · Відгук надано більше 1 року тому

Amit D. · Відгук надано більше 1 року тому

Deepnita M. · Відгук надано більше 1 року тому

Vivek I. · Відгук надано більше 1 року тому

Samuel C. · Відгук надано більше 1 року тому