Відгуки: [DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Irwan P. · Відгук надано близько 1 року тому

CHANDRA SEKHAR D. · Відгук надано близько 1 року тому

Ayush V. · Відгук надано близько 1 року тому

Amit D. · Відгук надано близько 1 року тому

Md. Mokit H. · Відгук надано близько 1 року тому

Sujay H. · Відгук надано близько 1 року тому

Babatunde Abib O. · Відгук надано близько 1 року тому

Gauri S. · Відгук надано близько 1 року тому

Rik S. · Відгук надано близько 1 року тому

Harold M. · Відгук надано близько 1 року тому

Komal P. · Відгук надано близько 1 року тому

Paweł R. · Відгук надано близько 1 року тому

Ayandip G. · Відгук надано близько 1 року тому

Rakshit M. · Відгук надано близько 1 року тому

Pravin T. · Відгук надано близько 1 року тому

Gabriela N. · Відгук надано близько 1 року тому

krishna k. · Відгук надано близько 1 року тому

Pooja B. · Відгук надано близько 1 року тому

Vikram S. · Відгук надано близько 1 року тому

Wasim H. · Відгук надано близько 1 року тому

Amal J. · Відгук надано близько 1 року тому

Arpan J. · Відгук надано близько 1 року тому

Rosemarie S. · Відгук надано близько 1 року тому

Emiliano S. · Відгук надано близько 1 року тому

Siddhraj Subhash G. · Відгук надано близько 1 року тому