Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Muvvala S. · Відгук надано 14 днів тому

Anil Kumar A. · Відгук надано 14 днів тому

Vinay C. · Відгук надано 14 днів тому

Subham G. · Відгук надано 15 днів тому

Niharika N. · Відгук надано 15 днів тому

Bala venkata ramana v. · Відгук надано 15 днів тому

Lucifer M. · Відгук надано 15 днів тому

Aalok R. · Відгук надано 15 днів тому

Kanithi G. · Відгук надано 15 днів тому

RISHI R. · Відгук надано 15 днів тому

TEJASVA MIDHA 2. · Відгук надано 15 днів тому

Rohit Kumar R. · Відгук надано 15 днів тому

Khushi P. · Відгук надано 16 днів тому

Vasudev S. · Відгук надано 16 днів тому

Abhishek S. · Відгук надано 16 днів тому

mittala n. · Відгук надано 17 днів тому

Arpit S. · Відгук надано 17 днів тому

Ayesha S. · Відгук надано 18 днів тому

Vansh A. · Відгук надано 18 днів тому

Deependra S. · Відгук надано 18 днів тому

LOYA A. · Відгук надано 18 днів тому

Priyadarshi K. · Відгук надано 18 днів тому

Garv P. · Відгук надано 18 днів тому

Ayushi G. · Відгук надано 18 днів тому

Nindali Rupu C. · Відгук надано 19 днів тому