Opinie ([DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab)

Byeonghyeon P. · Sprawdzono ponad rok temu

Byeonghyeon P. · Sprawdzono ponad rok temu

Roshan V. · Sprawdzono ponad rok temu

Vishal P. · Sprawdzono ponad rok temu

기원 이. · Sprawdzono ponad rok temu

Vitalii B. · Sprawdzono ponad rok temu

재민 현. · Sprawdzono ponad rok temu

Wonjin S. · Sprawdzono ponad rok temu

상재 변. · Sprawdzono ponad rok temu

Gustavo Kazuiti M. · Sprawdzono ponad rok temu

DevLuce 최. · Sprawdzono ponad rok temu

nice

Krushna chandra B. · Sprawdzono ponad rok temu

인철 조. · Sprawdzono ponad rok temu

analytics d. · Sprawdzono ponad rok temu

Rajesh K. · Sprawdzono ponad rok temu

Haifa A. · Sprawdzono ponad rok temu

Varun S. · Sprawdzono ponad rok temu

승준 백. · Sprawdzono ponad rok temu

Gokul M. · Sprawdzono ponad rok temu

Deepanshu T. · Sprawdzono ponad rok temu

Gokul M. · Sprawdzono ponad rok temu

Gi Mun L. · Sprawdzono ponad rok temu

Minjae G. · Sprawdzono ponad rok temu

Ripan G. · Sprawdzono ponad rok temu

주호 이. · Sprawdzono ponad rok temu