Opinie ([DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab)

Siraz S. · Sprawdzono ponad rok temu

Hemang P. · Sprawdzono ponad rok temu

Jinbeom K. · Sprawdzono ponad rok temu

Rahmad F. · Sprawdzono ponad rok temu

아영 김. · Sprawdzono ponad rok temu

Vijay G. · Sprawdzono ponad rok temu

SUN J. · Sprawdzono ponad rok temu

Kaushik D. · Sprawdzono ponad rok temu

stats G. · Sprawdzono ponad rok temu

Kaushik D. · Sprawdzono ponad rok temu

VISAL T. · Sprawdzono ponad rok temu

Kaushik D. · Sprawdzono ponad rok temu

Kaushik D. · Sprawdzono ponad rok temu

상필 박. · Sprawdzono ponad rok temu

Kaushik D. · Sprawdzono ponad rok temu

Kaushik D. · Sprawdzono ponad rok temu

AYUSH KUMAR S. · Sprawdzono ponad rok temu

Ujjwal K. · Sprawdzono ponad rok temu

Lee Y. · Sprawdzono ponad rok temu

Srijan M. · Sprawdzono ponad rok temu

Srijan M. · Sprawdzono ponad rok temu

Jayant V. · Sprawdzono ponad rok temu

Abhishek G. · Sprawdzono ponad rok temu

Srijan M. · Sprawdzono ponad rok temu

Dhanush R. · Sprawdzono ponad rok temu