Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

AIML_23 G. · Examiné il y a environ 14 heures

Soniya S. · Examiné il y a 1 jour

Sutiksn A G. · Examiné il y a 1 jour

Kalyani G. · Examiné il y a 1 jour

Dhruv G. · Examiné il y a 1 jour

Karthi R. · Examiné il y a 1 jour

Ayush R. · Examiné il y a 2 jours

Adarsh Kumar D. · Examiné il y a 2 jours

Manmohan B. · Examiné il y a 2 jours

RITESH C. · Examiné il y a 2 jours

Debjit P. · Examiné il y a 2 jours

Eshan S. · Examiné il y a 2 jours

Rohit K. · Examiné il y a 3 jours

Nishant C. · Examiné il y a 3 jours

Umesh Tharuka M. · Examiné il y a 3 jours

Dee R. · Examiné il y a 3 jours

Mradul D. · Examiné il y a 3 jours

Vivek K. · Examiné il y a 3 jours

Syed Z. · Examiné il y a 3 jours

Tushar C. · Examiné il y a 3 jours

Dibyendu M. · Examiné il y a 4 jours

Anil E. · Examiné il y a 4 jours

Himavarshini B. · Examiné il y a 5 jours

Pavan K. · Examiné il y a 5 jours

Trupti Y. · Examiné il y a 5 jours