[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Wei Loon T. · Examiné il y a plus d'un an

Adarsh K. · Examiné il y a plus d'un an

JAVVAJI B. · Examiné il y a plus d'un an

Akash P. · Examiné il y a plus d'un an

Honey S. · Examiné il y a plus d'un an

Krishi S. · Examiné il y a plus d'un an

Sakshi P. · Examiné il y a plus d'un an

Soyamprangya R. · Examiné il y a plus d'un an

Yash Raj S. · Examiné il y a plus d'un an

gud

Rishabh R. · Examiné il y a plus d'un an

Eko Budiono W. · Examiné il y a plus d'un an

MOHAMMAD MIRAN K. · Examiné il y a plus d'un an

Divya S. · Examiné il y a plus d'un an

Taufik H. · Examiné il y a plus d'un an

Aakash C. · Examiné il y a plus d'un an

Ko Y. · Examiné il y a plus d'un an

Mayur C. · Examiné il y a plus d'un an

Vasu R. · Examiné il y a plus d'un an

Luqman H. · Examiné il y a plus d'un an

Maulid C. · Examiné il y a plus d'un an

Good Lab

Paulo Roberto C. · Examiné il y a plus d'un an

Akkiy C. · Examiné il y a plus d'un an

GOOD

Avinash K. · Examiné il y a plus d'un an

Jeffri J. · Examiné il y a plus d'un an

Sumiran G. · Examiné il y a plus d'un an