Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Muvvala S. · Examiné il y a 14 jours

Anil Kumar A. · Examiné il y a 14 jours

Vinay C. · Examiné il y a 14 jours

Subham G. · Examiné il y a 15 jours

Niharika N. · Examiné il y a 15 jours

Bala venkata ramana v. · Examiné il y a 15 jours

Lucifer M. · Examiné il y a 15 jours

Aalok R. · Examiné il y a 15 jours

Kanithi G. · Examiné il y a 15 jours

RISHI R. · Examiné il y a 15 jours

TEJASVA MIDHA 2. · Examiné il y a 15 jours

Rohit Kumar R. · Examiné il y a 15 jours

Khushi P. · Examiné il y a 16 jours

Vasudev S. · Examiné il y a 16 jours

Abhishek S. · Examiné il y a 16 jours

mittala n. · Examiné il y a 17 jours

Arpit S. · Examiné il y a 17 jours

Ayesha S. · Examiné il y a 18 jours

Vansh A. · Examiné il y a 18 jours

Deependra S. · Examiné il y a 18 jours

LOYA A. · Examiné il y a 18 jours

Priyadarshi K. · Examiné il y a 18 jours

Garv P. · Examiné il y a 18 jours

Ayushi G. · Examiné il y a 18 jours

Nindali Rupu C. · Examiné il y a 19 jours