[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab Rezensionen

Pragati D. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Ankita L. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Adil k. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Cool

Sanket G. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Nur R. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Ajay B. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Prathamesh F. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

RF Technologies G. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

good lab

A-Nikhil K. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Yash K. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Lokesh B. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Bhavyata T. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

nice

Divyansh p. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

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Ankit B. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Tagore A. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

good lab

Aadarsh s. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Chandan S. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Nikita J. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Vivek D. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Vaibhav J. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Azlan K. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Sachin V. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Tech M. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Priyanshu G. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Arya R. · Vor mehr als ein Jahr überprüft