[DEPRECATED] Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab Rezensionen

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Byeonghyeon P. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Roshan V. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Vishal P. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

기원 이. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Vitalii B. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

재민 현. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Wonjin S. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

상재 변. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Gustavo Kazuiti M. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

DevLuce 최. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

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Krushna chandra B. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

인철 조. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

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Rajesh K. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Haifa A. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Varun S. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

승준 백. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Gokul M. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Deepanshu T. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Gokul M. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Gi Mun L. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Minjae G. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

Ripan G. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

주호 이. · Vor mehr als ein Jahr überprüft

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