关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Shishupal K. · 评论about 14 hours之前

SHARDUL P. · 评论1 day之前

Subhadip J. · 评论1 day之前

Aanand S. · 评论2 days之前

Manotosh H. · 评论3 days之前

AIML_23 G. · 评论4 days之前

Soniya S. · 评论5 days之前

Sutiksn A G. · 评论5 days之前

Kalyani G. · 评论5 days之前

Dhruv G. · 评论5 days之前

Karthi R. · 评论5 days之前

Ayush R. · 评论5 days之前

Adarsh Kumar D. · 评论5 days之前

Manmohan B. · 评论6 days之前

RITESH C. · 评论6 days之前

Debjit P. · 评论6 days之前

Eshan S. · 评论6 days之前

Rohit K. · 评论6 days之前

Nishant C. · 评论6 days之前

Umesh Tharuka M. · 评论6 days之前

Dee R. · 评论6 days之前

Mradul D. · 评论7 days之前

Vivek K. · 评论7 days之前

Syed Z. · 评论7 days之前

Tushar C. · 评论7 days之前