关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Omprakash K. · 已于 about 1 month前审核

Vanshika Y. · 已于 about 1 month前审核

Saksham J. · 已于 about 1 month前审核

SAIKUMAR L. · 已于 about 1 month前审核

Chaitanya Lakshmi K. · 已于 about 1 month前审核

Piyush M. · 已于 about 1 month前审核

Harsh D. · 已于 about 1 month前审核

Rohan P. · 已于 about 1 month前审核

Hari Krishna Swarun A. · 已于 about 1 month前审核

Bicky V. · 已于 about 1 month前审核

Pratima H. · 已于 about 1 month前审核

Apurba P. · 已于 about 1 month前审核

Arnab M. · 已于 about 1 month前审核

Yash R. · 已于 about 1 month前审核

Rukmini A. · 已于 about 1 month前审核

Prabhas P. · 已于 about 1 month前审核

Surjeetsinh T. · 已于 about 1 month前审核

Syed Z. · 已于 about 1 month前审核

Zameer S. · 已于 about 1 month前审核

WHITE D. · 已于 about 1 month前审核

WHITE D. · 已于 about 1 month前审核

Rahul S. · 已于 about 1 month前审核

Aayushi K. · 已于 about 1 month前审核

Shivraj P. · 已于 about 1 month前审核

Saurava M. · 已于 about 1 month前审核