关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Dharani. V. · 已于 about 2 months前审核

Ritik V. · 已于 about 2 months前审核

Aryan c. · 已于 about 2 months前审核

Sandeep V. · 已于 about 2 months前审核

Rizwan K. · 已于 about 2 months前审核

Abhay K. · 已于 about 2 months前审核

SHAIK K. · 已于 about 2 months前审核

Sushant R. · 已于 about 2 months前审核

Sumit S. · 已于 about 2 months前审核

Obinna C. · 已于 about 2 months前审核

Sheel P. · 已于 about 2 months前审核

Narendra T. · 已于 about 2 months前审核

Piyush K. · 已于 about 2 months前审核

Mitesh H. · 已于 about 2 months前审核

Prajwal A. · 已于 about 2 months前审核

Tanmoy S. · 已于 about 2 months前审核

Anurag S. · 已于 about 2 months前审核

Nupur M. · 已于 about 2 months前审核

Niranjit S. · 已于 about 2 months前审核

Abhay P. · 已于 about 2 months前审核

Rushikesh N. · 已于 about 2 months前审核

Antara N. · 已于 about 2 months前审核

Deep M. · 已于 about 2 months前审核

Aditya V. · 已于 about 2 months前审核

Akash s. · 已于 about 2 months前审核