关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Sanskruti S. · 已于 about 1 month前审核

Pranitha M. · 已于 about 1 month前审核

Meka Y. · 已于 about 1 month前审核

Binthia D. · 已于 about 1 month前审核

Arpan G. · 已于 about 1 month前审核

Dhokai N. · 已于 about 1 month前审核

eyenesh a. · 已于 about 1 month前审核

SAMRIDDHI V. · 已于 about 1 month前审核

Steve R. · 已于 about 1 month前审核

Amrit B. · 已于 about 1 month前审核

BISWADIP D. · 已于 about 1 month前审核

Silent S. · 已于 about 1 month前审核

Jimmy M. · 已于 about 1 month前审核

Akshay k. · 已于 about 1 month前审核

Pratiksha bhise G. · 已于 about 1 month前审核

Kashish K. · 已于 about 1 month前审核

B V. · 已于 about 1 month前审核

PADALA V N D MANIKANTA C. · 已于 about 1 month前审核

David S. · 已于 about 1 month前审核

Adtybma G. · 已于 about 1 month前审核

KANCHARLA S. · 已于 about 1 month前审核

Sumit D. · 已于 about 1 month前审核

Madhura B. · 已于 about 1 month前审核

Mohammad O. · 已于 about 1 month前审核

Shalini L. · 已于 about 1 month前审核