关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Sayyad M. · 已于 about 1 month前审核

Ananya A. · 已于 about 1 month前审核

KRATIKA M. · 已于 about 1 month前审核

Kshitiz P. · 已于 about 1 month前审核

Anurag J. · 已于 about 1 month前审核

Aarchi C. · 已于 about 1 month前审核

Kevin S. · 已于 about 1 month前审核

Hemal B. · 已于 about 1 month前审核

Harish G. · 已于 about 1 month前审核

Deepak N. · 已于 about 1 month前审核

Ashatul P. · 已于 about 1 month前审核

Clement A. · 已于 about 1 month前审核

Ayush G. · 已于 about 1 month前审核

Sourav T. · 已于 about 1 month前审核

Swati G. · 已于 about 1 month前审核

Hemadri K. · 已于 about 1 month前审核

saiteja reddy k. · 已于 about 1 month前审核

Aman V. · 已于 about 1 month前审核

Vincenzo C. · 已于 about 1 month前审核

Bathula K. · 已于 about 1 month前审核

Rudra pratap S. · 已于 about 1 month前审核

Prakhar G. · 已于 about 1 month前审核

Akash R. · 已于 about 1 month前审核

Anurag J. · 已于 about 1 month前审核

Krishnakant J. · 已于 about 1 month前审核