关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Anshul G. · 已于 about 1 month前审核

Janesh K. · 已于 about 1 month前审核

Kamlesh N. · 已于 about 1 month前审核

Lilavati S. · 已于 about 1 month前审核

Manan S. · 已于 about 1 month前审核

Santram S. · 已于 about 1 month前审核

Kiran M. · 已于 about 1 month前审核

Krishna A. · 已于 about 1 month前审核

Rahul B. · 已于 about 1 month前审核

Awadh R. · 已于 about 1 month前审核

Abhay Veer S. · 已于 about 1 month前审核

Ashatul P. · 已于 about 1 month前审核

Muhammad Akmal N. · 已于 about 1 month前审核

Akshay P. · 已于 about 1 month前审核

Akanksha B. · 已于 about 1 month前审核

Ravi T. · 已于 about 1 month前审核

Rinoza J. · 已于 about 1 month前审核

Gauri G. · 已于 about 1 month前审核

Chinmoy K. · 已于 about 1 month前审核

Sarth G. · 已于 about 1 month前审核

Sakshee P. · 已于 about 1 month前审核

Cirrus C. · 已于 about 1 month前审核

Sayyad M. · 已于 about 1 month前审核

Ananya A. · 已于 about 1 month前审核

KRATIKA M. · 已于 about 1 month前审核