Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Yana Midha G. · Відгук надано 18 днів тому

Таня Ф. · Відгук надано 18 днів тому

Aditya P. · Відгук надано 18 днів тому

Volodymyr S. · Відгук надано 18 днів тому

Владислав Б. · Відгук надано 18 днів тому

Oleh I. · Відгук надано 18 днів тому

Anil S. · Відгук надано 19 днів тому

Abhay Y. · Відгук надано 19 днів тому

Akshat M. · Відгук надано 19 днів тому

Antony G. · Відгук надано 19 днів тому

Soumya K. · Відгук надано 19 днів тому

Mahesh Kumar P. · Відгук надано 19 днів тому

Md Saqhib uddin A. · Відгук надано 19 днів тому

Eshan S. · Відгук надано 20 днів тому

Praveen K. · Відгук надано 20 днів тому

Parvinder M. · Відгук надано 20 днів тому

Manotosh H. · Відгук надано 20 днів тому

Sujith Kumar Reddy R. · Відгук надано 20 днів тому

Kurumurthi T. · Відгук надано 20 днів тому

Ігор Ч. · Відгук надано 20 днів тому

SAUNABHA K. · Відгук надано 20 днів тому

Goutam N. · Відгук надано 21 день тому

Marie T. · Відгук надано 21 день тому

Rajesh Y. · Відгук надано 21 день тому

Aastha G. · Відгук надано 21 день тому