Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Janesh K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Kamlesh N. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Lilavati S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Manan S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Santram S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Kiran M. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Krishna A. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Rahul B. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Awadh R. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Abhay Veer S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Ashatul P. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Muhammad Akmal N. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Akshay P. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Akanksha B. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Ravi T. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Rinoza J. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Gauri G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Chinmoy K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Sarth G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Sakshee P. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Cirrus C. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Sayyad M. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Ananya A. · Відгук надано близько 1 місяця тому

KRATIKA M. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Kshitiz P. · Відгук надано близько 1 місяця тому