Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Yash S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Diya D. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Harshitha G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

SONALI M. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Animesh A. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Lakshmi Harshitha K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

zig-zager Z. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Sahasrika G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Parth R. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Ragha Ramya A. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Bárbara de los Ángeles O. · Відгук надано близько 1 місяця тому

LANKIPALLI T. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Eren Y. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Pankaj B. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Suman A. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Fathima M. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Kripa C. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Nilesh Y. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Akash D. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Prateek C. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Susmita G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

DivyaSri G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Satyanarayana C. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Akhil K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Archana N. · Відгук надано близько 1 місяця тому