Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Rumit D. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Jatin G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Akarsh K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Sandeep K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Tushar Kumar S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Tushar Kumar S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

PRIYANSHU S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Yash B. · Відгук надано близько 1 місяця тому

HARIHARAN R. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Fearless C. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Pratiksha bhise G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

NENSI P. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Dhanshri G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Koustav C. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Meenakshi T. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Ankit N. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Arnav Kumar M. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Siddhant P. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Rudra K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Satyam G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Satyajeet N. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Kalpesh C. · Відгук надано близько 1 місяця тому

MoHiT K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Subham G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Vishal T. · Відгук надано близько 1 місяця тому