Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Subhojit G. · Відгук надано 29 днів тому

JP T. · Відгук надано 29 днів тому

Lokesh R. · Відгук надано 29 днів тому

Mrunal K. · Відгук надано 29 днів тому

Nidhi K. · Відгук надано 29 днів тому

Swarna S. · Відгук надано 29 днів тому

Soumik S. · Відгук надано 29 днів тому

Kushal P. · Відгук надано 29 днів тому

MEHRAAN A. · Відгук надано 29 днів тому

Shashank Y. · Відгук надано 30 днів тому

Abhishek K. · Відгук надано 30 днів тому

Aditya Y. · Відгук надано 30 днів тому

Dmytro K. · Відгук надано 30 днів тому

Yaroslav K. · Відгук надано 30 днів тому

Mykola S. · Відгук надано 30 днів тому

Balaram K. · Відгук надано 30 днів тому

Prince R. · Відгук надано 30 днів тому

Singh S. · Відгук надано 30 днів тому

Danil D. · Відгук надано 30 днів тому

Tetiana S. · Відгук надано 30 днів тому

Sanjana Raj S. · Відгук надано 30 днів тому

Mohd najam N. · Відгук надано 30 днів тому

Sharli K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Arjun P. · Відгук надано близько 1 місяця тому

NAVNEET C. · Відгук надано близько 1 місяця тому