Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Yash F. · Відгук надано 29 днів тому

Guddan p. · Відгук надано 29 днів тому

PINAKI M. · Відгук надано 30 днів тому

Rutika K. · Відгук надано 30 днів тому

Farendrakumar G. · Відгук надано 30 днів тому

Sushobhan G. · Відгук надано 30 днів тому

Supun N. · Відгук надано 30 днів тому

Nindali Rupu C. · Відгук надано 30 днів тому

Harsha P. · Відгук надано 30 днів тому

Sam N. · Відгук надано 30 днів тому

ST GOOGLE A. · Відгук надано 30 днів тому

Roman B. · Відгук надано 30 днів тому

Subhabrata N. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Utkarsh S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Janhavi S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Devang J. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Максим С. · Відгук надано близько 1 місяця тому

karthikeya sharma d. · Відгук надано близько 1 місяця тому

King K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

sathyasai k. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Snehal C. · Відгук надано близько 1 місяця тому

SAMEER K. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Google user G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Shubham G. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Szymon L. · Відгук надано близько 1 місяця тому