Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Aastha G. · Examiné il y a 28 jours

Black G. · Examiné il y a 28 jours

Musfik A. · Examiné il y a 28 jours

Novi A. · Examiné il y a 28 jours

SHUBHRADIP S. · Examiné il y a 29 jours

Bibhuti Bhusan R. · Examiné il y a 29 jours

Tharun K. · Examiné il y a 29 jours

Sandeep K. · Examiné il y a 29 jours

Manam S. · Examiné il y a 29 jours

Sarandeep S. · Examiné il y a 29 jours

Sergii S. · Examiné il y a 29 jours

Tushar R. · Examiné il y a 30 jours

Kalpa D. · Examiné il y a 30 jours

Awanish K. · Examiné il y a 30 jours

Hanna G. · Examiné il y a 30 jours

Yevhen G. · Examiné il y a 30 jours

Shreeharsh B. · Examiné il y a 30 jours

Rajarshi G. · Examiné il y a 30 jours

Dmytro V. · Examiné il y a 30 jours

Rajesh Y. · Examiné il y a 30 jours

Kyrylo B. · Examiné il y a environ un mois

Samir N. · Examiné il y a environ un mois

Shilpa S. · Examiné il y a environ un mois

hrishikesh k. · Examiné il y a environ un mois

Tetiana B. · Examiné il y a environ un mois