Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Anis L. · Examiné il y a 25 jours

Yana Midha G. · Examiné il y a 25 jours

Таня Ф. · Examiné il y a 25 jours

Aditya P. · Examiné il y a 25 jours

Volodymyr S. · Examiné il y a 25 jours

Владислав Б. · Examiné il y a 25 jours

Oleh I. · Examiné il y a 25 jours

Anil S. · Examiné il y a 26 jours

Abhay Y. · Examiné il y a 26 jours

Akshat M. · Examiné il y a 26 jours

Antony G. · Examiné il y a 26 jours

Soumya K. · Examiné il y a 26 jours

Mahesh Kumar P. · Examiné il y a 26 jours

Md Saqhib uddin A. · Examiné il y a 26 jours

Eshan S. · Examiné il y a 26 jours

Praveen K. · Examiné il y a 26 jours

Parvinder M. · Examiné il y a 27 jours

Manotosh H. · Examiné il y a 27 jours

Sujith Kumar Reddy R. · Examiné il y a 27 jours

Kurumurthi T. · Examiné il y a 27 jours

Ігор Ч. · Examiné il y a 27 jours

SAUNABHA K. · Examiné il y a 27 jours

Goutam N. · Examiné il y a 28 jours

Marie T. · Examiné il y a 28 jours

Rajesh Y. · Examiné il y a 28 jours