Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Subhojit G. · Examiné il y a 29 jours

JP T. · Examiné il y a 29 jours

Lokesh R. · Examiné il y a 29 jours

Mrunal K. · Examiné il y a 29 jours

Nidhi K. · Examiné il y a 29 jours

Swarna S. · Examiné il y a 29 jours

Soumik S. · Examiné il y a 29 jours

Kushal P. · Examiné il y a 29 jours

MEHRAAN A. · Examiné il y a 29 jours

Shashank Y. · Examiné il y a 30 jours

Abhishek K. · Examiné il y a 30 jours

Aditya Y. · Examiné il y a 30 jours

Dmytro K. · Examiné il y a 30 jours

Yaroslav K. · Examiné il y a 30 jours

Mykola S. · Examiné il y a 30 jours

Balaram K. · Examiné il y a 30 jours

Prince R. · Examiné il y a 30 jours

Singh S. · Examiné il y a 30 jours

Danil D. · Examiné il y a 30 jours

Tetiana S. · Examiné il y a 30 jours

Sanjana Raj S. · Examiné il y a 30 jours

Mohd najam N. · Examiné il y a 30 jours

Sharli K. · Examiné il y a environ un mois

Arjun P. · Examiné il y a environ un mois

NAVNEET C. · Examiné il y a environ un mois