Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Yash F. · Examiné il y a 29 jours

Guddan p. · Examiné il y a 29 jours

PINAKI M. · Examiné il y a 29 jours

Rutika K. · Examiné il y a 30 jours

Farendrakumar G. · Examiné il y a 30 jours

Sushobhan G. · Examiné il y a 30 jours

Supun N. · Examiné il y a 30 jours

Nindali Rupu C. · Examiné il y a 30 jours

Harsha P. · Examiné il y a 30 jours

Sam N. · Examiné il y a 30 jours

ST GOOGLE A. · Examiné il y a 30 jours

Roman B. · Examiné il y a 30 jours

Subhabrata N. · Examiné il y a environ un mois

Utkarsh S. · Examiné il y a environ un mois

Janhavi S. · Examiné il y a environ un mois

Devang J. · Examiné il y a environ un mois

Максим С. · Examiné il y a environ un mois

karthikeya sharma d. · Examiné il y a environ un mois

King K. · Examiné il y a environ un mois

sathyasai k. · Examiné il y a environ un mois

Snehal C. · Examiné il y a environ un mois

SAMEER K. · Examiné il y a environ un mois

Google user G. · Examiné il y a environ un mois

Shubham G. · Examiné il y a environ un mois

Szymon L. · Examiné il y a environ un mois