Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Khushal T. · Examiné il y a 29 jours

SM VINAY K. · Examiné il y a 29 jours

Soumajit K. · Examiné il y a 29 jours

Rachit S. · Examiné il y a 29 jours

Munira F. · Examiné il y a 29 jours

Oleksandr G. · Examiné il y a 29 jours

Marcos D. · Examiné il y a 29 jours

Locket C. · Examiné il y a 29 jours

Tamnil J. · Examiné il y a 29 jours

Lalu Y. · Examiné il y a 29 jours

Sanjay J. · Examiné il y a 29 jours

Madhukar G. · Examiné il y a 29 jours

Md Firdos A. · Examiné il y a 29 jours

Saad b. · Examiné il y a 29 jours

Aditya K. · Examiné il y a 29 jours

Prakash R. · Examiné il y a 29 jours

Kostiantyn B. · Examiné il y a 29 jours

Ec1ipse N. · Examiné il y a 29 jours

Prakash R. · Examiné il y a 29 jours

Denys P. · Examiné il y a 29 jours

Denys B. · Examiné il y a 30 jours

Nanda Kishore R. · Examiné il y a 30 jours

lucky j. · Examiné il y a 30 jours

Piyush S. · Examiné il y a 30 jours

Prince Kumar G. · Examiné il y a 30 jours